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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)適用于室溫下電子器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料的楊氏彈切變模量和泊松比的測量。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 5594.2-1985
標(biāo)準(zhǔn)名稱：電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法 楊氏彈性模量 泊松比測試方法
英文名稱：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for Young
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強(qiáng)制性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1985-11-27
實(shí)施日期：1986-12-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：>>>>L32
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：31.030
起草單位：天津大學(xué)
歸口單位：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）
發(fā)布單位：國家標(biāo)準(zhǔn)局
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