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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本指導(dǎo)性技術(shù)文件給出了確定X射線光電子能譜中本底的指南。本指導(dǎo)性技術(shù)文件適用于固體表面X射線激發(fā)的光電子和俄歇電子能譜的本底確定。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/Z 32490-2016
標(biāo)準(zhǔn)名稱：表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 確定本底的程序
英文名稱：Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Procedures for determining backgrounds
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：指導(dǎo)性技術(shù)文件
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2016-02-24
實(shí)施日期：2017-01-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：化工>>化工綜合>>G04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.40化學(xué)分析
起草單位：清華大學(xué)、中山大學(xué)
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 38)
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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