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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:
標(biāo)準(zhǔn)簡介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅片訂貨單的格式要求和使用。?本標(biāo)準(zhǔn)適用于硅單晶研磨片、硅單晶拋光片、硅單晶外延片、太陽能電池用硅單晶切割片、太陽能電池用多晶硅片的訂貨單格式,其他半導(dǎo)體材料的訂貨單可參照本標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 32279-2015
標(biāo)準(zhǔn)名稱:硅片訂貨單格式輸入規(guī)范
英文名稱:Specification for order entry format of silicon wafers
標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
發(fā)布日期:2015-12-10
實施日期:2017-01-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):冶金>>半金屬與半導(dǎo)體材料>>H80半金屬與半導(dǎo)體材料綜合
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):電氣工程>>29.045半導(dǎo)體材料
起草單位:萬向硅峰電子股份有限公司、浙江省硅材料質(zhì)量檢驗中心、杭州海納半導(dǎo)體有限公司、南京國盛電子有限公司、有研新材料股份有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司、江蘇協(xié)鑫硅材料科技發(fā)展有限公司、中國有色金屬工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)計量質(zhì)量研究所
歸口單位:全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 203)、全
發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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