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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鍺單晶位錯(cuò)密度的測試方法。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于、和面鍺單晶位錯(cuò)密度的測試，測試范圍為0 cm-2～100 000 cm-2。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 5252-2020
標(biāo)準(zhǔn)名稱：鍺單晶位錯(cuò)密度的測試方法
英文名稱：Test method for dislocation density of monocrystal germanium
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2020-06-02
實(shí)施日期：2021-04-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：冶金>>金屬理化性能試驗(yàn)方法>>H21金屬物理性能試驗(yàn)方法
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：冶金>>77.040金屬材料試驗(yàn)
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 5252-2006
起草單位：有研光電新材料有限責(zé)任公司、北京國晶輝紅外光學(xué)科技有限公司、國合通用測試評(píng)價(jià)認(rèn)證股份公司、云南臨滄鑫圓鍺業(yè)股份有限公司、中國電子科技集團(tuán)公司第四十六研究所、廣東先導(dǎo)稀材股份有限公司、中鍺科技有限公司、義烏力邁新材料有限公司
歸口單位：全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 203)、全
發(fā)布單位：國家市場監(jiān)督管理總局.
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