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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：ＧＢ／Ｔ５１７０的本部分規(guī)定了太陽輻射試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。本部分適用于對ＧＢ／Ｔ２４２３．２４ 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第２部分：試驗方法 試驗Ｓａ：模擬地面上的太陽輻射》所用試驗設(shè)備的*次檢驗／驗收檢驗和周期檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 5170.9-2008
標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 太陽輻射試驗設(shè)備
英文名稱：Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products—Solar radiation testing equipments
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：2008-06-16
實施日期：2008-09-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：試驗>>19.040環(huán)境試驗
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 5170.9-1996;被GB/T 5170.9-2017代替
起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所
歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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