檢測(cè)報(bào)告圖片模板：
檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用原子力顯微鏡(AFM)測(cè)量表面粗糙度的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)量濺射成膜方法生成的、平均粗糙度Ra 小于100nm 的薄膜。其他非濺射薄膜的表面粗糙度的測(cè)量可以參考此方法。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 31227-2014
標(biāo)準(zhǔn)名稱：原子力顯微鏡測(cè)量濺射薄膜表面粗糙度的方法
英文名稱：Test method for the surface roughness by atomic force microscope for sputtered thin films
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2014-09-30
實(shí)施日期：2015-04-15
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：機(jī)械>>機(jī)械綜合>>J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：計(jì)量學(xué)和測(cè)量、物理現(xiàn)象>>長(zhǎng)度和角度測(cè)量>>17.040.20表面特征
起草單位：上海交通大學(xué)、納米技術(shù)及應(yīng)用國(guó)家工程研究中心
歸口單位：全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC279)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
免責(zé)聲明：(更多標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)先聯(lián)系客服查詢！)
1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)為非營(yíng)利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用，使用標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)以正式出版的版本為準(zhǔn)。
2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)，不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)，本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問(wèn)題，如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán)，請(qǐng)聯(lián)系我們刪除。
