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GB/T2424.19-1984電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程模擬貯存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則

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標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 2424.19-1984

標(biāo)準(zhǔn)名稱:電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 模擬貯存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則

英文名稱:Basic environmental testing procedures for electric and electronic products; Guidance for the environmental tests simulating the effects of storage

標(biāo)準(zhǔn)類型:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):作廢

發(fā)布日期:1984-01-02

實(shí)施日期:1985-07-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS):電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(ICS):試驗(yàn)>>19.040環(huán)境試驗(yàn)

替代以下標(biāo)準(zhǔn):被GB/T 2424.19-2005代替

起草單位:環(huán)標(biāo)委貯存環(huán)境工作組

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