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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了各種密封性能試驗方法。試驗Qa、Qc是粗檢，觀察從漏隙中冒出的氣泡；試驗Qd是在加溫條件下觀察液體的滲漏；試驗Qk、Qm是用示蹤氣體檢測細(xì)漏；試驗Qf、Ql是在加壓條件下使液體通過漏隙進(jìn)入其中，然后測量其性能變化。本標(biāo)準(zhǔn)適用于檢測各種電工電子產(chǎn)品的密封性能，也適用于其他密封零部件的密封性檢測。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 2423.23-1995
標(biāo)準(zhǔn)名稱：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Q:密封
英文名稱：Environmental testing for electric and electronic products Test Q: sealing
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1995-01-27
實施日期：1995-08-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電工>>電工綜合>>K04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：試驗>>19.040環(huán)境試驗
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：GB 2423.23-1982 GB 2424.16-1982;被GB/T 2423.23-2013代替
起草單位：電子部標(biāo)準(zhǔn)化所
歸口單位：全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局
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