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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:《半導(dǎo)體器件 集成電路》的本部分適用于作為目錄內(nèi)電路或定制電路而制造的、其質(zhì)量是以鑒定批準(zhǔn)為基礎(chǔ)評(píng)定的膜集成電路和混合膜集成電路。本部分的目的是為額定值和特性提供優(yōu)先值,從總規(guī)范中選擇合適的試驗(yàn)和測(cè)量方法,并且給出根據(jù)本部分制定的膜集成電路和混合膜集成電路詳細(xì)規(guī)范使用的通用性能要求。優(yōu)先值的概念直接應(yīng)用于目錄內(nèi)電路,但是不必應(yīng)用于定制電路。參照本部分制定的詳細(xì)規(guī)范所規(guī)定的試驗(yàn)嚴(yán)酷等級(jí)和要求可等于或高于分規(guī)范的性能水平,不準(zhǔn)許有更低的性能水平。 同本部分相聯(lián)系的有一個(gè)或多個(gè)空白詳細(xì)
標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 11498-2018
標(biāo)準(zhǔn)名稱:半導(dǎo)體器件 集成電路 第21部分:膜集成電路和混合膜集成電路分規(guī)范(采用鑒定批準(zhǔn)程序)半導(dǎo)體器件 集成電路 第21部分:膜集成電路和混合膜集成電路分規(guī)范(采用鑒定批準(zhǔn)程序)
英文名稱:Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 21:Sectional specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the qualification approval procedures
標(biāo)準(zhǔn)類型:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
發(fā)布日期:2018-12-28
實(shí)施日期:2019-07-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L57膜集成電路
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(ICS):電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)
替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 11498-1989
起草單位:中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十三研究所、中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
歸口單位:全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 78)
發(fā)布單位:國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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