標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在微波頻率下利用雙諧振器法測(cè)試超導(dǎo)體表面電阻的方法。測(cè)試目標(biāo)是在諧振頻率下Rs隨溫度的變化。本標(biāo)準(zhǔn)適用于表面電阻的測(cè)試范圍如下：———頻率：８GHz＜f＜３０GHz———測(cè)試分辨率：0.01mΩ（f＝10GHz）

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 22586-2008

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：高溫超導(dǎo)薄膜微波表面電阻測(cè)試

英文名稱(chēng)：Measurements of microwave surface resistance of resistance of HTSC thin film

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢

發(fā)布日期：2008-12-15

實(shí)施日期：2009-05-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：冶金>>金屬理化性能試驗(yàn)方法>>H21金屬物理性能試驗(yàn)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：冶金>>金屬材料試驗(yàn)>>77.040.99金屬材料的其他試驗(yàn)方法

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 22586-2018代替

起草單位：電子科技大學(xué)、清華大學(xué)、南京大學(xué)等

歸口單位：全國(guó)超導(dǎo)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.