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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：GB/T22181的本部分給出了在下列領(lǐng)域內(nèi)確定表征等離子體顯示模塊的性能的測(cè)量方法:a) 缺陷;b) 圖像殘留;c) 壽命。本部分適用于等離子體顯示模塊的顯示質(zhì)量測(cè)量。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 22181.23-2012
標(biāo)準(zhǔn)名稱：等離子體顯示器件 第2-3部分：模塊顯示質(zhì)量測(cè)量方法
英文名稱：Plasma display panels—Part 2-3:Measuring methods for module quality
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2012-12-31
實(shí)施日期：2013-06-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>半導(dǎo)體分立器件>>L47其他
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.120電子顯示器件
起草單位：TCL集團(tuán)股份有限公司
歸口單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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