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標準簡介：本標準規(guī)定了分析電鏡（AEM/EDS即透射電子顯微鏡或裝有掃描附件的透射電鏡——X射線能譜儀，測量比例因子（K A-B）所用納米薄標樣的技術要求、檢測條件和檢測方法。
標準號：GB/T 18735-2002
標準名稱：分析電鏡（AEM/EDS）納米薄標樣 通用規(guī)范
英文名稱：General specification of nanometer thin STANDARD specimen for analytical transmission electron microscopy (AEM/EDS)
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：推薦性
標準狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：2002-05-22
實施日期：2002-12-01
中國標準分類號（CCS）：儀器、儀表>>光學儀器>>N33電子光學與其他物理光學儀器
國際標準分類號（ICS）：成像技術>>37.020光學設備
替代以下標準：被GB/T 18735-2014代替
起草單位：武漢理工大學、中科院廣州地球化學研究所
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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