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GB/T21638-2008鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析方法通則

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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)簡介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析的術(shù)語、分析方法和程序、分析報告內(nèi)容等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于鋼鐵材料內(nèi)部及表面缺陷的電子束顯微分析。

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 21638-2008

標(biāo)準(zhǔn)名稱:鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析方法通則

英文名稱:Guide for electron beam microananlysis of defect in steel materials

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2008-04-11

實施日期:2008-10-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):儀器、儀表>>物質(zhì)成分分析儀器與環(huán)境監(jiān)測儀器>>N53電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.99有關(guān)化學(xué)分析方

起草單位:上海寶鋼股份公司技術(shù)中心、武漢鋼鐵集團公司技術(shù)中心、北京鋼鐵研究總院、上海材料研究所

歸口單位:全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

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