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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了應(yīng)用掃描電鏡X射線能譜儀（包括裝有X射線能譜儀的電子探針儀）對(duì)鍍金制品表面金及金合金單層均勻鍍層成分的非破壞性分析測(cè)量方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于表面鍍金及金合金，其鍍層厚度為0.2μm以上，3μm以下范圍內(nèi)的成分測(cè)量(不包括基體和金鍍層材料相近的鍍層成分的測(cè)量)。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17723-1999
標(biāo)準(zhǔn)名稱：黃金制品鍍層成分的 X 射線能譜測(cè)量方法
英文名稱：Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1999-04-01
實(shí)施日期：1999-01-02
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 17362-2008代替
起草單位：北京有色金屬研究總院
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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