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檢測執(zhí)行標準信息一覽：
標準簡介：本標準規(guī)定了各類金制品的金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法的技術要求，本標準也適用于電子探針儀測量金覆蓋層厚度，適用的厚度測量范圍為0.2~10um。其他金屬材料的覆蓋層厚度的測量也可參照執(zhí)行。
標準號：GB/T 17722-1999
標準名稱：金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法
英文名稱：Gold-plated thickness measurement by SEM
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1999-04-01
實施日期：1999-01-02
中國標準分類號（CCS）：儀器、儀表>>光學儀器>>N33電子光學與其他物理光學儀器
國際標準分類號（ICS）：成像技術>>37.020光學設備
起草單位：中國科學院北京科儀研制中心
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會
發(fā)布單位：國家質量技術監(jiān)督局
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