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標準簡介：本標準規(guī)定了MOS和結(jié)型場效應半導體集成電路模擬開關(guān)電參數(shù)測試的基本原理。模擬開關(guān)與CMOS電路相同的靜態(tài)參數(shù)和動態(tài)參數(shù)測試可參照GB3834《半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理》。
標準號：GB/T 14028-1992
標準名稱：半導體集成電路模擬開關(guān)測試方法的基本原理
英文名稱：General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：推薦性
標準狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1992-01-02
實施日期：1993-08-01
中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L55微電路綜合
國際標準分類號（ICS）：電子學>>31.200集成電路、微電子學
替代以下標準：被GB/T 14028-2018代替
起草單位：上海件五廠
歸口單位：全國半導體器件標準化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局
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