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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本空白詳細(xì)規(guī)范是半導(dǎo)體器件的一系列空白詳細(xì)規(guī)范之一，本規(guī)范等同采用國際電工委員會（IEC）標(biāo)準(zhǔn)IEC 60748-2-9：1994《半導(dǎo)體器件 集成電路 第2-9部分：數(shù)字集成電路 紫外光擦除電可編程MOS只讀存儲器空白詳細(xì)規(guī)范》。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 17574.9-2006
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件 集成電路 第2-9部分：數(shù)字集成電路紫外光擦除電可編程MOS只讀存儲器空白詳細(xì)規(guī)范
英文名稱：Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-9: Digital integrated circuits - Blank detail specification for MOS ultraviolet light erasable electrically programmable read-only memories
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2006-12-05
實(shí)施日期：2007-05-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>微電路>>L56半導(dǎo)體集成電路
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)
起草單位：中國電子科技集團(tuán)公司第四十七研究所
歸口單位：全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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