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GB/T17473.2-2008微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法細(xì)度測定

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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)簡介:本部分規(guī)定了微電子技術(shù)用貴金屬漿料細(xì)度的刮板測定方法。本部分適用于微電子技術(shù)用貴金屬漿料細(xì)度測定。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 17473.2-2008

標(biāo)準(zhǔn)名稱:微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 細(xì)度測定

英文名稱:Test methods of presious metals pastes used for microelectronics - Determination of fineness

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2008-03-31

實(shí)施日期:2008-09-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS):冶金>>有色金屬及其合金產(chǎn)品>>H68貴金屬及其合金

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(ICS):冶金>>有色金屬>>77.120.99其他有色金屬及其合金

替代以下標(biāo)準(zhǔn):替代GB/T 17473.2-1998

起草單位:貴研鉑業(yè)股份有限公司

歸口單位:全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

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