檢測報告圖片模板：
檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了貴金屬漿料分辨率的測試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于貴金屬漿料的分辨率測定。非貴金屬漿料亦可參照使用。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 17473.6-1998
標(biāo)準(zhǔn)名稱：厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法 分辨率測定
英文名稱：Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of resolution
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1998-08-19
實施日期：1999-03-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：冶金>>金屬理化性能試驗方法>>H23金屬工藝性能試驗方法
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：冶金>>金屬材料試驗>>77.040.01金屬材料試驗綜合
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 17473.6-2008代替
起草單位：昆明貴金屬研究所
歸口單位：全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
免責(zé)聲明：(更多標(biāo)準(zhǔn)請先聯(lián)系客服查詢！)
1.本站標(biāo)準(zhǔn)庫為非營利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用，使用標(biāo)準(zhǔn)請以正式出版的版本為準(zhǔn)。
2.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，不保證文件的準(zhǔn)確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準(zhǔn)資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問題，如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán)，請聯(lián)系我們刪除。
