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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)代替ＧＢ／Ｔ１７４７３—１９９８ 《厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法》（所有部分），本標(biāo)準(zhǔn)分為７個(gè)部分,本部分為ＧＢ／Ｔ１７４７３—２００８的第６部分。 本部分規(guī)定了微電子技術(shù)用貴金屬漿料分辨率的測(cè)定方法。本部分適用于微電子技術(shù)用貴金屬漿料的分辨率測(cè)定。 本部分代替ＧＢ／Ｔ１７４７３．６—１９９８ 《厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法 分辨率測(cè)定》。本部分與ＧＢ／Ｔ１７４７３．６—１９９８相比，主要有如下變動(dòng)：———將原標(biāo)準(zhǔn)名稱修改為微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法 分辨率測(cè)定；———增加了固化型貴金屬漿料分辨率測(cè)定的內(nèi)容；———原“光刻膜絲網(wǎng)網(wǎng)徑２０?玻玻鄲蹋? 不銹鋼絲網(wǎng)”改為“光刻膜絲網(wǎng)，絲網(wǎng)孔徑不大于５４μｍ”；———增加６．３將印有固化型的試樣按其規(guī)定的工藝要求進(jìn)行靜置、烘干、固化，固化后試樣膜厚控制在１μｍ～１５μｍ；———分辨率規(guī)格分級(jí)重新定義為０．１ｍｍ、０．２ｍｍ、０．３ｍｍ、０．４ｍｍ、０．５ｍｍ 五個(gè)級(jí)別。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17473.6-2008
標(biāo)準(zhǔn)名稱：微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法 分辨率測(cè)定
英文名稱：Test methods of precious metal pastes used for microelectronics - Determination of resolution
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2008-03-31
實(shí)施日期：2008-09-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：冶金>>有色金屬及其合金產(chǎn)品>>H68貴金屬及其合金
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：冶金>>有色金屬>>77.120.99其他有色金屬及其合金
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 17473.6-1998
起草單位：貴研鉑業(yè)股份有限公司
歸口單位：全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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