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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用掃描電鏡的Ｘ射線能譜儀，對(duì)黃金飾品金含量進(jìn)行無損的定量分析方法和技術(shù)要求和規(guī)范。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)各種純金飾品和Ｋ金飾品含金量的測(cè)定，也可適用于各種鍍金、包金、鍛壓金等表面含金層厚度大于3μm的飾品表面層含金量的測(cè)定。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于電子探針Ｘ射線能譜儀對(duì)黃金飾品的分析。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 17362-1998
標(biāo)準(zhǔn)名稱：黃金飾品的掃描電鏡X射線 能譜分析方法
英文名稱：Nondestructive method of X-ray EDS analysis with SEM for gold jewelry
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1998-05-08
實(shí)施日期：1998-01-02
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 17362-2008代替
起草單位：中國有色金屬工業(yè)總公司北京有色金屬研究院
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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