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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低合金鋼和碳鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法——標(biāo)定曲線法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶波譜儀的掃描電鏡。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 17360-1998
標(biāo)準(zhǔn)名稱：鋼中低含量Si、Mn 的電子探針定量分析方法
英文名稱：Method of quantitative electron probe microanalysis on low contents of Si and Mn in steels
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1998-05-08
實(shí)施日期：1998-01-02
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 17360-2008代替
起草單位：中國科學(xué)院金屬研究所
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
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