標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本部分規(guī)定了帶有接觸式探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)特性的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè)的方法，且僅在坐標(biāo)測(cè)量機(jī)有以下配置時(shí)適用： --任何類(lèi)型接觸式探測(cè)系統(tǒng)； --離散點(diǎn)探測(cè)的模式； --探針針頭為球形或半球形。 GB/T 16857的本部分適用于有以下任一配置的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)： a）單探針探測(cè)系統(tǒng)； b）多探針探測(cè)系統(tǒng)，即一個(gè)測(cè)頭下固定地連接了多個(gè)探針（如星形探針）； c）多測(cè)頭探測(cè)系統(tǒng)，如配置了多個(gè)測(cè)頭，每個(gè)測(cè)頭都安裝了探針； d）萬(wàn)向探測(cè)系統(tǒng)； e）探針和測(cè)頭交換系統(tǒng)； f）手動(dòng)（無(wú)驅(qū)動(dòng)式）坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。 本部分不適用于非接觸式的探測(cè)系統(tǒng)，它需要不同的檢測(cè)步驟。 為方便用戶(hù)，將坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的多探針探測(cè)系統(tǒng)的尺寸誤差簡(jiǎn)稱(chēng)為多探針尺寸誤差。 如果有可能把探測(cè)系統(tǒng)的特性與坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的特性分離，那么坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的影響就可以忽略。詳細(xì)信息參見(jiàn)附錄C。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 16857.5-2017

標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè) 第5部分：使用單探針或多探針接觸式探測(cè)系統(tǒng)的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

英文名稱(chēng)：Geometrical product specifications(GPS)—Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines(CMM)—Part 5:CMMs using single or multiple stylus contacting probing systems

標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2017-11-01

實(shí)施日期：2018-05-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：機(jī)械>>機(jī)械綜合>>J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：計(jì)量學(xué)和測(cè)量、物理現(xiàn)象>>長(zhǎng)度和角度測(cè)量>>17.040.30測(cè)量?jī)x器儀表

替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 16857.5-2004

起草單位：中機(jī)中電設(shè)計(jì)研究院有限公司

歸口單位：全國(guó)產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 240)

發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.