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GB/T13221-2004納米粉末粒度分布的測(cè)定X射線小角散射法

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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)簡介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用X射線小角散射效應(yīng)測(cè)定納米粉末粒度分布的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)定顆粒尺寸在1 nm~300nm范圍內(nèi)的粉末的粒度分布,對(duì)于無機(jī)、有機(jī)溶膠及生物大分子粒度的測(cè)定,也可參照?qǐng)?zhí)行。當(dāng)粉末的顆粒形狀偏離球形時(shí),本方法給出的為等效散射球直徑。本方法不適用于由不同材質(zhì)的顆粒組成的混合粉末;一般也不適用于有微孔存在的粉末,但當(dāng)微孔尺寸為納米級(jí)而顆粒(或骨架)尺寸在0.5μm以上時(shí),可以用來測(cè)定相應(yīng)的孔徑分布。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 13221-2004

標(biāo)準(zhǔn)名稱:納米粉末粒度分布的測(cè)定X 射線小角散射法

英文名稱:Nanometer powder—Determinaiton of particle size distribution—Small angle X-ray

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2004-09-29

實(shí)施日期:2005-04-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS):儀器、儀表>>試驗(yàn)機(jī)與無損探傷儀器>>N78X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(ICS):試驗(yàn)>>19.120粒度分析、篩分

替代以下標(biāo)準(zhǔn):GB/T 13221-1991

起草單位:鋼鐵研究總院

歸口單位:全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

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