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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子測量儀器(以下簡稱儀器)新產(chǎn)品在設(shè)計(jì)時應(yīng)進(jìn)行的設(shè)計(jì)余量與模擬誤用試驗(yàn)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于所有環(huán)境組別的電子測量儀器。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 13166-2018
標(biāo)準(zhǔn)名稱：電子測量儀器設(shè)計(jì)余量與模擬誤用試驗(yàn)
英文名稱：Design margin and abuse tests for electronic measuring instrument
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2018-06-07
實(shí)施日期：2019-01-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電子測量與儀器>>L85電子測量與儀器綜合
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：計(jì)量學(xué)和測量、物理現(xiàn)象>>17.220電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測量
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 13166-1991
起草單位：工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、蘇州市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督綜合檢驗(yàn)檢測中心、中國電子科技集團(tuán)公司第41研究所
歸口單位：全國電子測量儀器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 153)
發(fā)布單位：國家市場監(jiān)督管理總局.
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