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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了介電晶體的低頻（10MHz以下)介電系數(shù)及介電損耗的試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于介電晶體的介電性能的測定。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 16822-1997
標(biāo)準(zhǔn)名稱：介電晶體介電性能的試驗(yàn)方法
英文名稱：Test method for dielectric properties of dielectric crystal
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：1997-05-28
實(shí)施日期：1998-02-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電子設(shè)備專用材料、零件、結(jié)構(gòu)件>>L90電子技術(shù)專用材料
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：電子學(xué)>>31.020電子元件綜合
起草單位：中國科學(xué)院物理研究所
歸口單位：信息產(chǎn)業(yè)部（電子）
發(fā)布單位：國家技術(shù)監(jiān)督局
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