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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了表征以半導(dǎo)體探測器、前置放大器和信號處理系統(tǒng)為基本構(gòu)成的X射線能譜儀特性較重要的量值。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 20726-2006
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體探測器X射線能譜儀通則
英文名稱：Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：2006-12-25
實(shí)施日期：2007-08-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：化工技術(shù)>>分析化學(xué)>>71.040.99有關(guān)化學(xué)分析方
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 20726-2015代替
起草單位：中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所
歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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